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飛田 健次; 草間 義紀; 根本 正博; 竹内 浩; 伊藤 孝雄; 塚原 美光; 蔀 守正; 渡邊 和弘; 小原 祥裕
核融合研究, 59(SPECIAL ISSUE), p.139 - 156, 1988/00
JT-60の中心イオン温度計測のために、製作し稼動している能動粒子線小角散乱装置(能動的荷電交換粒子計測)の設計の考え方、Heイオン源の開発項目、等並びにこの小角散乱装置をJT-60に応用する際必要となる較正実験結果とJT-60の中心温度測定例について記述した。
飛田 健次; 草間 義紀; 根本 正博; 竹内 浩; 吉田 英俊; 逆井 章; 久保 博孝; 小出 芳彦; 杉江 達夫; 伊藤 孝雄; et al.
Nuclear Fusion, 28(10), p.1719 - 1726, 1988/00
被引用回数：14 パーセンタイル：51.14(Physics, Fluids & Plasmas)能動粒子線散乱法を用いて、JT-60のジュール加熱およびNBI加熱プラズマのイオン温度及び不純物測定を行った。
渡部 和弘; 伊藤 孝雄; 金井 丈雄*; 松岡 守; 松田 慎三郎; 蔀 守正; 塚原 美光; 薄井 勝富
JAERI-M 86-104, 53 Pages, 1986/07
JT-60プラズマ中心部のイオン温度測定に能動粒子線計測法が用いられる。能動粒子線源として200keV、3.5A、0.1秒という高エネルギ-でか大電流のヘリウムイオンビ-ム発生装置を開発した。JT-60へ装着するに先立ち、能動粒子線試験室に本装置を建設し開発試験および改良を行なった結果、定格出力のビ-ムを繰り返して安定に得られるようになった。本報告では、まず、本装置の電源システムの構成を示す。次にイオン源放電破壊時に発生するサ-ジ電圧の伝播による電源システムの誤動作に関する防止対策について述べる。さらに、ビ-ムを繰り返し安定に得る為に実施したサ-ジ電流低減策について、サ-ジ測定とシュミレ-ションとの対比を踏まえながら述べる。最後に、JT-60へ装着時のサ-ジ伝播をシュミレ-ションによって検討したので併せて記述する。
竹内 浩; 松田 俊明; 西谷 健夫; 志甫 諒; 小長井 主税*; 木村 博信*; 前田 彦祐
JAERI-M 83-141, 15 Pages, 1983/09
トカマクプラズマのイオン温度を測定するための能動粒子線計測法がJFT-2トカマクに適用され、ジュール加熱時のイオン温度が求められた。測定には15KeVの水素原子ビームが用いられ、散乱粒子のエネルギー分析と検出は、散乱角4
で運動量分析器とシリコン障壁型の半導体検出器によって行なわれた。得られたイオン温度は受動的な荷電交換中性粒子計測法で得られた値と一致した。また散乱スペクトラムへの影響も調べられ、ラザフォード散乱から予想された強度と散乱強度の間の差はターゲット粒子の原子数の増大とともに増加することがわかり、その結果、散乱強度に不純物イオンが寄与しない現象は中性粒子ビームの不純物イオンの衝突によるイオン化により起ることがわかった。
竹内 浩; 松田 俊明; 西谷 健夫; 志甫 諒; 木村 博信*; 小長井 主税*; 前田 彦祐
Japanese Journal of Applied Physics, 22(11), p.1717 - 1721, 1983/00
被引用回数：13 パーセンタイル：58.13(Physics, Applied)中性粒子ビーム散乱によるイオン温度測定法がJFT-2トカマクプラズマに適用されジュール加熱時のイオン温度が求められた。その温度は受動的な荷電交換中性粒子計測から求めた値と一致した。また散乱スペクトルへの不純物の影響も調べられ、観測値とラザフォード散乱から予想される値との差はターゲット粒子の原子数の増加とともに、増大することがわかった。その結果、不純物イオンが散乱強度に寄与しない現象は不純物イオンとの衝突による中性粒子ビームのイオン化によって起ることがわかった。
